热场发射扫描电子显微镜分析(F250/F430)

主要应用和分析样例

1)     样例

2)     样例

主要用于观察、分析和记录材料的微观形貌，通过配备能谱仪。EBSD等进行材料组成与结构分析:

1)     具有高真空和低真空(<200Pa)两种模式

2)     EDAX公司能谱与电子背散射衍射（EBSD）一体化系统

3)     喷金喷碳一体化

适用领域 

1)     广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究

2)     在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析，材料断口分析和失效分析；各种材料的形貌组织观察

3)     材料实时微区成分分析；快速的多元素面扫描和线扫描分布测量

4)     晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量；元素定量、定性成分分析

5)     晶体、晶粒的相鉴定

面向学科

化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等

样品要求

1)     请根据自己样品的性质及测试需求，自行查阅相关资料后，提供详细的测试条件（电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等）

2)     样品量不少于3 mg

3)     可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品

4)     潮湿的样品不能测试

5)     有机的样品需要具体沟通

收费标准      

1)     形貌观察（无磁性、10万倍以下）                    150元/样

2)     形貌观察（磁性样、5万倍以下）                      200元/样

3)     EDS能谱  （随形貌2个区域且无磁性）              +80元/样

4)     EDS能谱  （随形貌2个区域且有磁性）              +100元/样

5)     单独EDS能谱（无磁性）                                  120元/样

6)     单独EDS能谱（磁性样）                                  200元/样

7)     Mapping(无磁性1个区域)                                300元/样

8)     Mapping(磁性1个区域)                                    400元/样

 分析仪器

仪器名称：热场发射扫描电镜显微镜

仪器型号：QUANTA250/QUANTA430

仪器缩写： FE-SEM

生产厂家：美国FEI公司

仪器技术参数

1)     分辨率 二次电子（SE）像

2)     高真空模式　1.0nm @ 15kV ;1.6nm @ 1kV

3)     低真空模式　 1.8nm @ 30kV

4)     放大倍率：35～1 000 000倍，根据加速电压和工作距离的改变，放大倍数自动校准

5)     加速电压：0.2 - 30kV 着陆电压：0.05-30kV

6)     样品室：样品室左右直径为284mm，可安装EDS＋EBSD附件

7)     样品台：同心样品台，五轴自动移动最大范围指标：X=Y=100mm,z=60mm

8)     连续旋转：R=360°

9)     倾斜角T：范围-5°~70°

10)   探测器：二次电子：E-T二次电子检测器，TLD二次电子检测器，LVD低真空二次电子探测器

11)   背散射电子：固体背散射电子检测器，TLD背散射电子检测器，样品室IR-CCD相机