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美国FEI-Tecnai G2 F20/F30
测试样例1) 样例 &..
￥50.00
日本日立-Regulus 8100
超高分辨冷场发射扫描电子显微镜 样例 1) 离子研磨截面 2) 纤维效果 ..
￥80.00
美国FEI-QUANTA250
主要应用和分析样例1) 样例 2) 样例主要用于观察、分析和记录材料的微观形貌，通过配备能谱仪..
美国FEI-Nova Nano SEM
扫描电子显微镜(搭载EBSD探头)测试 测试样例 1) 样例12) 样例2 适用领域 金属、合..
￥500.00
美国FEI-Themis Z
双球差校正场发射透射电子显微镜 样例 1) 高角度ADF STEM图像显示GaN[112]取向的63pm列分离 &nbs..
￥3,000.00
美国FEI-Tecnai G2 20
分析样例 1) 样例 ..
￥20.00
/0-300x300.jpg "热场发射扫描电子显微镜分析(F250/F430)")
/0-300x300.jpg "透射电子显微镜分析(G20)")
