多晶(粉末)X射线衍射测试

分析样例 

1)     样例

        2)     样例

适用领域 

1)     粉末样品物相分析

2)     药物XRD指纹谱，晶型分析

3)     金属表面物相分析

4)     水泥、矿石、宝石类结晶相物相分析

5)     结晶度分析

6)     样品的对照分析

面向学科

化学、药物、材料、农林、化工、环境、生化、矿物、地质、冶金、半导体等领域

样品要求

1)     粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径小于20μm，粉末样品量约需30mg以上

2)     块状样品要求：测试面清洁平整，也可板状、片状或丝状，带基材的镀层等原始形状，厚度≤1cm，直径≤3cm。

3)     特殊样品：极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需要颗粒均匀细小，且物质性质稳定，对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。如样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请告知

4)     请写明测试的起始角度，2θ角扫描范围一般在5°～90°之间

5)     剧毒样品需特别注明

6)     请注明样品保存条件，如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等，注明是否回收等

收费标准      

            广角（范围：5-90度）                                   50元/样

           小角 （范围：0.5-5度）                                  100元/样

            慢扫（低于6度/min）                                  200元/小时

分析仪器

Powder X-Ray Diffractometer

仪器型号：D8 ADVANCE

仪器缩写：XRD

生产厂家：德国Bruker公司

安装日期：2014.01

标签：粉末样品 多晶样品 物相分析 晶型分析 结晶度 XRD 

仪器简介

布鲁克D8 ADVANCE 多晶（粉末）X射线衍射仪样品台水平固定，适合测试粉末样品、块状固体等。主要应用于混合物相的定性分析；样品的对照分析；晶体物相的半定量分析；材料晶体结构的表征；结晶度分析等

仪器技术参数

1)     X-射线发生器最大输出功率3000W
X-射线光管：Cu靶

2)     测角仪：光学编码器技术，th/2th可以联动单独转动，且可连续改变，最小运动步长0.0001

3)     样品测角头X,Y,Z可调

4)     光路系统：石墨单色器用于入射光路

5)     探测器：采用LynxEye一维阵列探测器，具有较高的接收效率、灵敏度和稳定性