X射线荧光光谱测试

测试样例  

应用范围

1)     X射线荧光光谱仪具有非破坏性、快速、精度高、定性及定量准确等优点，是原子吸收、ICP等仪器强有力的补充

2)     X射线荧光光谱仪广泛应用于钢铁、有色、石化、地质、玻璃、电子、纳米材料等材料的化学元素成分快速分析

收费标准      

1)     定性半定量分析                           200元/样

样品要求

1)     定性半定量分析：最好是粉末样品，粒度不超过180目，需2-4 g；如果为固体样块，要求表面平整光洁无污染，直径34-38 mm，厚度为3-5 mm的圆柱；如果为液体，需要5-15 ml。定性半定量数据需注明要求氧化物形式或者单质形式

2)     定量分析：只能分析粉末，结果为氧化物形式，需3-5 g

主要应用

1)     可应用于物理、化学、地质地理、环保、冶金、材料等领域中的成份分析以及工矿企业质量监控

2)     能对固体、粉末、薄膜以及纳米材料中的元素进行定性定量分析

3)     多层镀膜的每层元素定性定量分析，膜厚测

4)     样品微区分析

主要特点

1)     可以实现样品的无损检测

2)     在没有标样的情况下对样品进行全元素（9F-92U）分析

3)     样品处理相对简单

4)     峰背比较高，分析灵敏度高

检测项目：

1)     样品进行全元素（9F-92U）定性半定量检测

2)     指定元素（9F-92U）定性定量检测

设备介绍

X射线荧光光谱分析(X-Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X-Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。只要测出一系列X射线荧光谱线的波长，即能确定元素的种类；测得谱线强度并与标准样品比较，即可确定该元素的含量。由此建立了X射线荧光光谱（XRF）分析法。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素（F）到92号元素（U）

       岛津XRF-1800型波长色散荧光光谱仪